• HOME
  • NEWS
  • 「非接触三次元計測技術の基礎と三次元データの活用法」セミナーにて講演します (2019/11/12)

NEWS

2019.10.11 | 展示会・セミナー

「非接触三次元計測技術の基礎と三次元データの活用法」セミナーにて講演します (2019/11/12)

2019年11月12日(火)、日本テクノセンターで開催される「非接触三次元計測技術の基礎と三次元データの活用法」セミナーにて、当社社員が下記の題目にて講師を務めます。

【テーマ】
短納期・品質保証を実現するための非接触型三次元計測の活用と3次元データの検査技術とリバースエンジニアリングへの応用
【講師】
株式会社アルモニコス 木戸 康久

【概要】
工業製品の検査工程における短納期と品質保証の両方を実現する方法として、高精度化したCCDカメラ方式やレーザー方式、産業用CTスキャナなどの非接触測定機と3次元設計CADデータを利用することにより、従来の検査手法とは全く異なる圧倒的に効率化された製品検査の方法を紹介します。
また、非接触測定点群データや解析データを利用し、金型CADデータや製品CADデータ、見込み形状を作成するリバースエンジニアリングを紹介します。

当日は、二部構成となります。当社社員は第二部(14:30~17:30)に登壇いたします。

ご興味のある方はぜひこの機会にご参加ください。

【セミナー詳細 及び 申込方法】
有料のセミナーとなります。参加ご希望の方は、公式サイトよりお申し込みください。
https://www.j-techno.co.jp/seminar/seminar-31635/

開催日 2019年11月12日(火) 10:30 ~ 17:30
テーマ 非接触三次元計測技術の基礎と三次元データの活用法
 第一部 三次元計測の基礎と効果的な活用法
 第二部 短納期・品質保証を実現するための非接触型三次元計測の活用と3次元データの検査技術とリバースエンジニアリングへの応用
場所 日本テクノセンター研修室

ニュースの一覧へ戻る

pagetop